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Appareil de mesure d'épaisseur de couche LEPTOSKOP
• Avec cadre en caoutchouc coloré antidérapant • Écran rétroéclairé avec grands chiffres • Mesure l'épaisseur des couches non magnétiques sur substrat magnétisable (selon DIN EN ISO 2178) et l'épaisseur des couches non conductrices sur matériau de base non magnétique et conducteur selon le principe des courants de Foucault (selon DIN EN ISO 2360) avec sondes externes adaptées à diverses géométries • Plage de mesure dépendant de la sonde • Unités µm, mm, mils, pouces. Alimentation possible par batterie, accumulateurs, USB ou adaptateur secteur. Remarque : • Appareil avec mémoire de données et autres sondes sur demande • Incertitude de mesure : • Pour les couches < 100 µm : 1 % de la valeur mesurée ±1 µm (après étalonnage) • Pour les couches > 100 µm : 1–3 % de la valeur mesurée ±1 µm • Pour les couches > 1000 µm : 3–5 % de la valeur mesurée ±10 µm • Pour les couches > 10000 µm : 5 % de la valeur mesurée ±100 µm